今天跟大家分享的是一项正在进行的临床研究。胚胎和内膜是影响IVF成功与否的两大关键因素，要想成功受孕，质量不错的胚胎和容受性良好的内膜缺一不可，临床上有不少患者多次移植高质量的胚胎或囊胚，却不着床。
过去人们多认为在IVF过程中胚胎因素占主要地位，近年来内膜因素逐渐得到重视，内膜质量不好可使IVF成功率降低。内膜质量不好除了内膜对胚胎的容受性降低，还有可能是窗口期移位。
窗口期
窗口期是指女性排卵后约6至10天中的一段很短的时期，只有在这段时期内的内膜才可以让胚胎着床，正常人的窗口期持续约1至2天，窗口期移位如推迟、提前、缩短等都有可能影响着床。
窗口期改变
有研究表明，每4个反复着床失败的人中，就有1个人发生窗口期改变，这一比例远高于正常人群。因此推断，反复着床失败的人群中可能有一部分是因为窗口期移位而导致的着床失败。
ERA-找准窗口期
目前临床上评估内膜主要是通过诊刮和B超下内膜形态表现如厚度、三线征等，这些方法仍有待改进，并且不能判断患者窗口期是否发生改变，基于此，国外有科学团队设计了一个基因芯片(endometrial receptivity array, ERA)，用于检测子宫内膜容受性，尤其是诊断窗口期，指导移植，从而提高着床率及妊娠率，改善IVF结局。
研究人员根据人子宫内膜在不同月经时期基因表达的不同，筛选出了238个基因，从而设计了ERA。ERA可以从基因表达水平检测子宫内膜的生物活动状态，判断其是否处于窗口期，进而指导临床。
该团队的前期研究表明，通过ERA指导患者进行个体化移植，可明显提高患者的胚胎着床率及妊娠率。目前该产品正在全球多个国家进行临床试验，并且在年底就会有结果出来，对于因窗口期改变而导致着床失败的患者，将有望借助ERA改善IVF结局。
